一块材料的发射率,查手册只能拿到参考值。
同一牌号的隔热涂层,批次不同、表面处理不同,测出来的数值对不上是常事,手册上的数字落到自己手上这批材料未必作数。要拿到自家材料的数据,得实测。
D&S 的 AE1/RD1 就是做这件事的仪器,面向常温材料,操作只有两个动作。它的标称 ±0.01 是重复性,常被当成测量准确度,这一点放到后面细说。
图1:AE1/RD1 系统。左侧为 AE1 测量头与热沉装置,右侧为 RD1 标度数字电压表
AE1 是测量头。内部为差分热电堆探测器,探测器部分被加热到 82°C(180°F),与常温样品之间形成温差;探测器响应这一辐射换热,输出电压与发射率近似呈线性。热量来自仪器一侧,样品不需要加热,也不需要另行测温。
RD1 是配套的标度数字电压表。负责把这一电压换算成发射率数值并显示。按 D&S 的说明,它是测量头的配套读数装置。
配套的热沉装置,用来让校准标准与待测材料保持相同温度。
步骤一,定标。把 AE1 测量头放在高发射率标准块上,调整 RD1 的增益旋钮,使读数等于该标准块的发射率值。
步骤二,测量。把测量头移到待测样品上,RD1 显示的就是发射率,不需要人工换算。
用 RD1 定标时,把它置于可变增益档,等 60 至 90 秒读数稳定后再调;校准至少每 30 分钟重做一次,以减小温度变化带来的误差。换用普通电压表也能测,每测一次都要手工把直流电压换算成发射率,这一步省不掉。
定标用的是高发射率标准块,它的数值高、长期稳定,适合当参考点;低发射率标准块则用来核查仪器在整个量程上的线性。
图2:AE1/RD1 的测量步骤
下面这些算不上操作步骤,但漏掉任何一件,标出来的数都不可靠。
通电后要等约 30 分钟达到热平衡,读数才稳定。预热期间把测量头侧放,让内部水汽逸出;如果这台仪器天天用,可以保持通电,省掉这段等待。
同温这一条对结果的影响常被低估。样品与校准标准块必须处于同一温度,测前先把两者放到热沉上静置。D&S 手册在标定步骤里提到,致密材料可以滴几滴水填满样品与热沉的缝隙来改善热接触;多孔涂层、薄膜、镀膜玻璃不要加水,以免损伤表面。
辐射换热强度取决于两者温差,温度不一致,读数就会偏;静置不够,数值还会缓慢漂移。还有一个反过来的讲究:测完把测量头移开,别一直压在热沉上把标准块烘热。
探测器时间常数标称 10 秒,指的是响应达到稳态值 63% 所需的时间。要完全稳定,通常得等上数个时间常数;D&S 手册给出的操作提示是等 60 至 90 秒再记录,这一条比标称的时间常数更贴实际操作。
样品本身要平整,平面度约在 0.25 mm 以内,并优先选导热良好的材料。较厚的低导热样品即使平面合格,内部温度梯度也会带来偏差,这类样品与粗糙面按 D&S 技术说明 79-17 处理。
表面油污、水膜、脱模剂相当于多了一层介质,测前应清洁并干燥;带适配器测倾斜面误差偏大,尽量水平测量。样品温度上限约 130°F(54°C),常规测量在常温下进行。
随机提供的高、低发射率标准块各两个,一套作工作校准标准,另一套存放备用、用于核查工作标准。涂层、镀膜这类材料,不同位置的发射率并不一样,多点取样取平均更能代表整批材料。
读数出来之后,先要知道它代表什么。AE1 测的是近似于 150°F(65°C)下的总半球发射率,来自全波段的辐射换热,探测器在 3 至 30 μm 的热辐射波段内响应近于恒定。样品不需要加热,也不需要另行测温。
读数背后有三个温度容易混:测量头内部的探测器被加热到 82°C,结果是 65°C 等效样品温度下的发射率,而标称 2.4 毫伏这个输出值,标定条件是样品发射率 0.9、样品温度 78°F(25°C)。
重复性为 ±0.01 发射率单位,探测器输出与发射率在 ±0.01 单位范围内呈线性。
这个 ±0.01 是重复性指标,准确度另算。ASTM C1371 给这类方法的指标是:按规程操作、避免误用的前提下,测量精度优于 ±0.02 发射率单位;实际准确度还取决于标准块数值、样品贴合与温度一致性。
材料实际工作温度与 65°C 相差较大时,引用数据要注明测量条件,金属材料尤其明显。D&S 不规定固定的工厂校准周期,由用户按使用频率自行确定;标准块本身的数值也要定期核查。
项目 | 指标 |
测量对象 | 总半球发射率(近似) |
探测器响应 | 3 至 30 μm 热辐射波段内近于恒定;输出为总半球发射率 |
测量范围 | 0 至 1 |
重复性 | ±0.01 发射率单位;测量准确度受标准块与样品工况影响 |
样品温度 | 常温,上限约 130°F(54°C) |
最小样品直径 | Φ5.7 cm,选配适配器可至 Φ2.54 cm |
测量方式 | 接触式 |
读数装置 | RD1 标度数字电压表 |
预热时间 | 约 30 分钟 |
测量节奏 | 一轮标定加测量约每 1.5 分钟;单次读数响应十几秒,需等充分稳定 |
供电 | 通用交流适配器 100 至 240 V、50/60 Hz,测量头 12 V DC |
标配可测量直径 5.7 cm 以上的平表面。样品更小时加装适配器:AE-AD1 对应直径 3.8 cm,AE-AD3 对应 2.54 cm;AE-ADP 面向低导热材料、半径大于 2 英寸的圆柱面,以及粗糙或带纹理的表面。其他几何形状可定制测量头,小直径圆柱样品可通过改造适配器实现多件平行测量。金属与非金属材料都能测。
标准配置包括 AE1 测量头、RD1 标度数字电压表、两个高发射率标准块、两个低发射率标准块、热沉装置、电源与输出电缆、通用电源适配器、电源线与手提箱。
按 D&S 产品资料,仪器执行 ASTM C1371 的便携式发射率计试验方法,测量原理与热辐射相关的通用原则一致;针对这类便携式仪器没有专属的 ISO 产品认证。建筑节能与热控涂层的检测多引用这一方法。
常见测量对象包括建筑节能涂层、Low-E 镀膜小样、航天器热控涂层、散热材料与工业炉衬材料;整片中空玻璃厚度大、导热差,不适合本仪器。
同一批材料取多块样品,或在一块上标出覆盖边缘与中心的多个测点。测前把样品与标准块一起放上热沉装置静置到同温;预热满 30 分钟,先定标再依次测量,读数稳定后记录。测程较长时,至少每 30 分钟回标准块复核一次。
数值取平均,记下环境温度与测量位置;与来料证书或手册值相差较大时,先核对样品表面状态与温度条件,再判断是否复测。
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