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  • Is 12-Si红外测温仪
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    数字式高端测温仪,用于非接触式测量350℃以上的硅片温度。

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商品描述

数字式高端测温仪,用于非接触式测量350℃以上的硅片温度。


用于测量硅片;
350-1800 °C 之间的4种测温范围;
光谱范围:近红外窄带,特别用于硅的测量;
6个固定镜头和3个调焦镜头;
响应时间10毫秒,可调节到10秒。

简要描述
IS 12-Si红外测温仪配备了一个近红外窄带滤光器。这样就可以可靠地测量350°C以上的薄硅片,对于红外辐射来说,低于该温度,这一薄硅片就是透明的了。在这个特殊的光谱范围内,硅的辐射率为67%,且不受温度影响。这就使IS 12-Si能够检测出硅片的正确温度。
在温度范围内测量开始时,IS 12-Si对光是敏感的。这个敏感度随着温度的增加而减弱。在温度范围开始时需要低温的应用情况下,这一效果可通过筛选光线来得以避免。

                                                                    光路显示:


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测温范围

400...900°C

400...1300°C

350...1000°C

500...1800°C

测温次区间:

测温范围内任意可设置最小跨度 51°C

测量波段:

近红外窄波测量硅材料波段

信号处理:

光信号立即数字化

绝对精度:

测量值的0.3%+ 1°C

重复精度:

测量值的0.1%+ 1°C

分辨率:

接口和数显: 0.1°C, 模拟输出: < 温度范围的 0.025 %

响应时间 t90:

< 10 ms 可调为 10 s

发射率 ε:

0.100 ...  1.000 调幅 1/1000

模拟输出:

线性 0 ... 20 mA  4 ... 20  mA, 直流

数字接口:

RS232  RS485 可切换

瞄准方式:

内置取景器附带激光瞄准

防护等级:

IP65 (DIN 40050)

环境温度:

0...70°C

存放温度:

-20...70°C

相对湿度:

无冷凝

参数设置:

仪器本机上可进行参数设置测温数据显示

CE-标志:

符合欧盟相关标准

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