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  • PhotriX 小光斑测温仪

    PhotriX系列的性能体现在其传统的镜头配置。这一配置用于从远处或通过视窗/视口观测目标，被广泛地应用于先进材料、

    太阳能、晶体生长过程应用领域。该配置提供五个不同的近红外光谱响应(880 nm, 900 nm, 1550 nm以及700-1650 nm)。测温范围为75 °C-2600 °C。可供选配的配件包含了工业安装用的带有空气吹洗的保护冷却套


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商品描述

PhotriX系列的性能体现在其传统的镜头配置。这一配置用于从远处或通过视窗/视口观测目标，被广泛地应用于先进材料、

太阳能、晶体生长过程应用领域。该配置提供五个不同的近红外光谱响应(880 nm, 900 nm, 1550 nm以及700-1650 nm)。测温范围为75 °C-2600 °C。可供选配的配件包含了工业安装用的带有空气吹洗的保护冷却套


低温测量功能（具体内容请参照以下表格）；

  • 65°C温度条件下光谱响应为700-1650nm

  • 125°C温度条件下光谱响应为1550nm

  • 270°C温度条件下光谱响应为900nm

  • 280°C温度条件下光谱响应为880nm

  • 490°C温度条件下光谱响应为650nm

光斑尺寸小，最小为0.5毫米（在99%能源条件下）；
响应时间短，仅1毫秒；
精确度+/- 1.5 °C或读数的0.15%；
精度0.01 °C（详见技术资料TN-828）。

简要描述
Photrix系列是我们精确的测温仪，拥有行业内较好的信噪比，可测量低温，实现小光斑尺寸以及快速响应时间（1毫秒）。标准镜头配置有5种光谱响应（波长），
模拟输出(用户可选4-20mA或0-10V)、带有镜头吹扫的保护硬件以及多通道接口模块（单个数字信号最多可使用8个传感器）可供选择。标准系统包括所有必要的电缆、电源、电脑接口软件以及存档/校正系统。
典型应用
具有低辐射率的金属；
铝；
铜铟镓硒(CIGS)薄膜太阳能沉积；
非晶硅薄膜沉积；
激光加热过程；
直拉晶体生长；
光纤拉丝；
感应加热。




测温范围:

30...2400°C

70...2600°C

210...2600°C

220...2600°C

400...2600°C

测量波段:

650 nm – 1650 nm

准确度:

± 1.5° C 或 读数的0.15% 

分辨率:

0.01 C

响应时间:

1ms

漂移:

<0.15° C 每年

输出:

RS-232 (标准), 支持Modbus 协议, 模拟输出(选配)

环境温度:

10 – 60° C

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