太阳光谱反射率仪在材料反射测量中具有重要作用,能够提供准确的漫反射和镜面反射数据。Model SSR version 6 采用钨丝灯泡生成漫射光源,并通过特定角度收集样品反射光,配备四个探测器覆盖紫外、蓝光、红光和红外波长范围。仪器提供二级校准,操作简便,每8秒进行一次测量,2秒内采集六个探测器的反射系数,显示太阳能反射系数数据。该仪器在科研和生产领域具有较高的应用价值。
碳化硅(SiC)因其优异的高温和低温工作性能在半导体领域备受关注。作为一种宽禁带半导体,碳化硅在极端温度下仍能保持良好的电气性能,具有广泛的应用前景。温度变化会影响碳化硅片的物理、化学和电学性能,高温下其热膨胀、硬度及机械性能改变,低温时则收缩、变脆。Impac IS 50-Si-LO plus测温仪适用于硅片测量,测温范围为400-1600°C,配备光纤及可更换测头,不受电磁干扰,耐温高达250°C,并可根据测量距离选择不同测头,实现小光斑尺寸测量。