D&S AE1/RD1 半球发射率测量仪是一款专门设计用于测量材料的半球发射率的仪器，符合 ASTM C1371 标准。该仪器由两部分组成：AE1 发射率计和 RD1 数字电压计。它为实验室提供了一个高效、精确且经济的解决方案，能够快速、准确地测量各种材料的半球发射率。
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重复性： ± 0.01操作简单：探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度。快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率。价格实惠
简要概述AE1/RD1发射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪仅对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1发射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体（近似黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。AE1测量样品最小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头，能测量样品的最小直径为1.0英寸（2.54cm）。还可以定制探头，测量圆柱形表面和几乎任何几何形状表面。对于小直径圆柱形面样品的测量，可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头，请来电垂询价格！发射率通过两个步骤获取：1、把辐射计放在高发射率标准体上，设定RD1来表示发射率；2、把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。
读数器:
D&S 微型数字伏特计，型号RD1
输出:
2.4 毫伏（当材料发射率为0.9，材料温度为25℃时）
线性关系:
该测量仪输出和发射率成线性关系，偏差小于±0.01
测量时间:
10 s
样品温度:
最大130℉。样品温度和标准体温度必须一致
漂移:
输出值可能随着外界环境的变化而改变，但是这些影响在本仪器这么短的检测时间内可以忽略
标准体:
随机提供两个高发射率标准体和两个低发射率标准体。其中一套标准体可以用来测量时使用，另一套标准体备用并作为参考
电源:
通用交流电源适配器100-240V，50-60 Hz，12V直流输出
AE1发射率仪：
包括发射率仪、电源线、加热装置，两个高发射率标准体和两个低发射率标准体，技术手册及操作指南
D&S AE1/RD1发射率测量仪
D&S AE1/RD1发射率测量仪
公网安备号：沪公网安备 31011702007572号
