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半球发射率测量仪 AE1&RD1——美国D&S
来源: | 作者:上海明策 | 发布时间: 2024-11-29 | 293 次浏览 | 分享到:

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半球发射率测量仪AE1 RD1是用于测量发射率的专用仪器。低温加热被测样品,仪器通过探测器接受样品材料表面辐射出来的红外能量后换算出发射率,根据设定的标准体发射率准参数,计算并读出被测样品发射率。可提供测量服务。

符合《ASTM C1371》、《JG_T 235-2014 建筑反射隔热涂料》、《GBT 25261-2010 建筑用反射隔热涂料》等国家标准,是建筑涂料行业,新能源材料研究,航空航天材料研发检测的优选。

重复性高,重复精度达到±0.01发射单位;

易于操作:

仪器的检测器部分已电加热,因此不必额外加热样品,也无需温度测量。根据高发射率标准体提前设定发射率标准参数,测量仪仅对辐射热传输响应并输出电压,和发射率成线性关系,通过可调旋钮设定发射率读数与标准体的发射率一致,通过校准后,当测量被测样品时,检测仪便可直接读出发射率。

快速测量:

在大约30分钟的初始预热器。期后,可以每隔半分钟读取一次发射率读数,使得测量结果变得实时可观。


高性价比:

该仪器简便小巧,性价比高,比同期其他方法的测量设备成本更低,维护更简单。