细说红外测温仪在半导体行业中起到的作用

2023-12-07

在科技飞速发展的今天，红外测温仪已经广泛应用于各个领域，特别是在半导体行业中，它发挥着至关重要的作用。你是否想过，红外测温仪是如何助力半导体行业发展的呢？接下来，让我们一起探讨这个话题。

MIKRON黑体校准源全系列产品介绍

2023-12-07

Mikron黑体校准源具有先进的发射率、均匀的发射面以及拥有行业领先的温度稳定性。主要用于校准红外辐射温度计、红外热像仪等非接触式的辐射测温仪器。

关于红外测温仪选型技巧

2023-11-22

了解技术方面的要求大前提/背景：测量用途目的/需解决什么问题？
1、测量工件的温度，进行生产的质量监控，稳定技术工艺，确保产品的品质。
2、对某样品进行温度测量，研究其在某特定条件下的温度变化及趋势，完成某种科学研究或开发。

【明策小课堂】关于红外高温计和热成像问题解析

2023-11-22

透射比在实际应用中有哪些影响？
透射比系数修改可变相补偿温度对标差异。补偿值取量需要谨慎。
以熔炼炉测温为例，测温仪与热电偶过大的温度差异会让生产工艺温度管控参照混乱。
被测物状态稳定，测温时间有保证，干扰因素稳定，可用改透射比参数与热电偶完美对标。

薄膜沉积，IMPAC IGAR 6 SMART助力工艺精准测温

2023-11-08

薄膜沉积的化学气相沉积是把含有构成薄膜元素的气态反应剂或液态反应剂的蒸汽，以合理的气流引入工艺腔室，在衬底表面发生化学反应并在衬底表面上沉积薄膜。该工艺制备的薄膜具有很好的化学配比，针孔数量少，具有应力控制能力，但对工艺参数，如温度、压强、流场等的变化较为敏感，因此需要精准测量该工艺中基材的温度。

黑体炉包括哪几种，有哪些区别？

2023-10-19

按照辐射面来分的话，黑体校准源可以分为面源黑体炉和腔式黑体炉，标准面源黑体的温度范围覆盖：-40℃~550℃，因其发射面大所以不能像腔源黑体那样达到很高的温度。

红外热成像仪MIKRON MCS640在激光焊接的应用

2023-10-11

红外热像仪是利用红外探测器和光学成像物镜接受被测目标的红外辐射能量分布图形反映到红外探测器的光敏元件上，从而获得红外热像图，这种热像图与物体表面的热分布场相对应。通俗地讲红外热像仪就是将物体发出的不可见红外能量转变为可见的热图像。热图像的上面的不同颜色代表被测物体的不同温度。

关于面源黑体炉你了解的有多少呢？

2023-09-27

什么是标准面源黑体，标准面源黑体的温度范围覆盖：-40℃~550℃，因为其发射面大和腔体的设计结构，它不能像腔源黑体那样达到很高的温度。面源黑体主要用于衡量热像仪的均匀性（一致性），灵敏度，最小可变温差，最小可探测温差等参数性能，所以衡量面源黑体的性能主要从均匀性，稳定性，精度，发射率，分辨率等指标。标准的面源发射面一般呈矩形状，黑体表面是凸起的峰状结构（提高发射率）。

红外测温仪如何选型及红外测温仪参数介绍

2023-09-01

红外测温仪也可以称之为红外高温计，红外测温仪按照结构模式分类可以分为：固定式红外测温仪和手持式红外测温仪，在行业内也可以称为是在线式红外测温仪和便携式红外测温仪。固定式主要用于连续温度测量控制场合，手持式一般用于不连续温度测量，携带很方便。按照红外光学信号传揄方式分类：可分光纤测温仪。光纤测温仪由于通过光纤传输光信号，光敏元件及处理电路离检测目标距离较远，适合用于温度较高工作环境，及避免电磁干扰。

按照材料分类，impac红外测温仪可以分为这三类

2023-07-27

金属、陶瓷和石墨表面测温
明亮金属表面的短波辐射率较高并随着波长增加而下降。如果金属表面出现氧化和污染，则结果可能不稳定，辐射率可能受到温度和/或波长的严重影响。
金属部件在加工后经常呈现明亮表面，加热时表面会变化。如果温度超过300°C，通常出现
锈蚀色和氧化皮增加的现象，这需要考虑避免测量错误。