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​D&S AE1/RD1发射率测量仪:测量小型或不规则材料表面发射率
来源: | 作者:上海明策 | 发布时间: 2025-09-22 | 13 次浏览 | 分享到:

D&S AE1/RD1发射率测量仪:测试小型或不规则材料表面的发射率


D&S公司的AE1型发射率计与RD1型可调数字电压表的组合,为应对上述测量挑战提供了一个专门设计的、高效且可靠的解决方案。它将实验室级的精度与现场应用的便捷性结合。  


核心技术与工作原理


AE1发射率计用于测量总半球发射率,这正是大多数热传递计算和标准合规性所需要的物理量。其设计的核心创新在于其独特的工作原理:  


仪器内部的探测器被电加热至一个稳定温度,而待测样品本身无需加热   


这种设计巧妙地运用了量热法测量原理——通过直接测量探测器与样品之间的辐射热交换来确定发射率——但极大地简化了操作流程。传统方法通常需要对样品进行加热,这不仅耗时,还可能对样品造成不可逆的损伤。AE1的加热探测器设计,使得测量过程完全无损,并且无需进行任何复杂的温度测量,从而革命性地提升了测量的便捷性和速度。  


关键特性与用户收益


  • 合规性与高精度:该仪器完全符合ASTM C1371ISO相关标准,确保其测量结果具有权威性和可追溯性,可直接用于法规遵从和产品认证。其 


    $pm 0.01$发射率单位的卓越重复性和线性度,为用户提供了高度可靠的数据支持  


  • 简便性与节约时间:AE1/RD1的操作流程被设计得极为简单,仅需两步即可完成测量:

    1. 将AE1探测头放置在随附的高发射率标准样品上,旋转RD1电压表上的增益旋钮,使读数与标准样品的已知发射率值一致,完成校准。

    2. 将探测头移至待测样品表面,RD1电压表上显示的即为样品的发射率值,可直接读取  


      在经过约30分钟的预热后,每次测量仅需90秒,这一速度使其非常适合生产线上的质量控制抽检或建筑工地的现场大面积排查  


  • 应对多样化的应用需求

    • 标准配置下,AE1可测量直径不小于2.25英寸(5.7 cm)的平整表面。为应对多样化的应用需求,D&S提供了一系列可选的适配器  


    • AE-AD1AE-AD3 适配器:可将最小测量面积分别缩小至1.5英寸(3.8 cm)和1.0英寸(2.54 cm),非常适合测试小型元件或材料试样。

    • AE-ADP 适配器:这是专为测量“困难”表面而设计的关键附件。它能够可靠地测量低导热性材料(如某些建筑隔热材料)、粗糙或带纹理的表面(如屋顶瓦片、涂料),甚至是半径大于2英寸的大曲率圆柱表面(可应用于汽车排气管或工业管道的涂层检测)。

    • 定制适配器:D&S还可根据客户的特殊需求,为几乎任何几何形状的表面设计定制适配器,充分体现了其技术灵活性和解决问题的能力  


  • 便携性与现场应用:可选配的锂离子电池包可提供长达12小时的连续工作时间,并配有低电量指示功能。这一选项将AE1/RD1从一台桌面仪器转变为一个真正便携的现场工具,无论是用于建筑屋顶的现场验收,还是在飞机库中对航天器部件进行检查,都能轻松应对  


表:D&S Model AE1/RD1 关键技术规格


下表总结了AE1/RD1发射率计的核心技术参数,为技术人员提供了快速参考。

规格数值 / 描述
测量原理近似测量在65°C (150°F)下的总半球发射率
符合标准ASTM C1371, ISO 要求
重复性$pm 0.01$ 发射率单位
线性度$pm 0.01$发射率单位
易用性探测器电加热(样品不加热);无需温度测量
测量速度30分钟预热后,约90秒/次读数
标准样品尺寸2.25英寸 (5.7 cm) 的平坦表面
可选适配器适用于最小至1.0英寸 (2.54 cm) 的平坦样品;适用于粗糙、低导热性或圆柱形表面
读数设备RD1型可调数字电压表,直接读取发射率
随附附件高/低发射率标准样品、散热块、手提箱、通用电源
关键选件电池包(12小时续航)、ISO证书、10倍增益选项(用于3位小数精度读数)