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D&S太阳光谱反射仪 SSR-ER:符合ASTM C1549-04、E891-87 等
来源: | 作者:上海明策 | 发布时间: 2025-04-17 | 30 次浏览 | 分享到:


在太阳能材料、节能建筑、光学涂层和航空航天等高精尖领域,对材料在不同太阳辐照条件下的反射特性有着严格的测量需求。D&S太阳光谱反射仪 SSR-ER:符合ASTM C1549-04、E891-87 等标准,正是为满足这一需求而打造的一款高精度、多功能光谱测量设备。

设备概述

SSR-ER v6 采用可选择的太阳光谱测量模式,精确模拟多种全球与直射太阳辐照度模型,适用于各种漫反射与镜面材料,包括厚度达6.4毫米的二次反射面。其测量分辨率达0.001单位重复性优于0.003单位,为太阳反射率与吸收率测量树立了新标准。

核心技术与优势

  1. 六通道光谱探测系统

SSR-ER v6 搭载四个实际光谱探测器(UV、蓝光、红光、红外),并通过在较低色温(~2300K)下对红光和红外通道重采样,生成两个虚拟探测器。总共六个通道的组合使得设备能够完美匹配多种太阳光谱模型,包括:

  • ASTM G173 AM1.5(全球与直射)

  • ASTM E891 AM1.5

  • AM0(空间用)、AM1(地面用)不同分量

  • 近红外光谱(780nm+)、CIE D65 可见光模型

  • 模拟 SSR v5 各版本输出

未来新标准也可通过固件升级或RAM上传方式进行扩展支持。

2. 精确而稳定的测量机制

测量采用钨卤素灯光源进行漫反射照明,样品反射的光在距法线20度角度被探测器接收。根据光学互易原理,这一设计可模拟太阳光以20度入射时的反射效果。测量周期为8秒,其中6秒用于背景校正,2秒进行读数采样,避免了热漂移与偏移问题。

3. 高标准溯源校准

设备配备NIST 溯源的漫反射与镜面标准板,与美国国家标准材料编号2019与2023一致。此外,系统还内置黑体腔体,用于将系统偏移归零。

每台仪器出厂时都通过一组参考颜色砖进行光谱校准,这些砖块覆盖从UV到IR的反射范围,并随设备附带校准记录卡。用户还可将多达五组工作标准数据储存在内存中,便于现场快速切换与长期追踪校准状态。

4. 多模式数据输出与操作便捷性

操作面板支持:

  • 切换显示反射率与吸收率

  • 单通道数据读取(如仅显示IR或UV通道)

  • “保持”功能冻结当前测量值

  • 自动/手动串口输出数据

  • 向后兼容SSR v5输出格式

5. 优秀的扩展能力与便携性

SSR-ER 提供多种扩展选项,使其适应更广泛的测量应用:

  • 非平面适配器:可测量直径小至13mm的圆柱面。

  • 手柄模块:便于手持测量。

  • 12V便携电源包:锂电池供电,连续运行达5小时。

  • 透射率测量附件(SSR-T):用于测量总太阳透射率,支持入射角0–60°调节。

技术规格一览

参数
分辨率0.001单位
重复性±0.003单位
精度偏差±0.002单位(标准太阳光谱下)
显示器4位液晶数字显示
测量周期8秒/次
工作温度电子模块 60°C,测头/附件 50°C
湿度限制≤80% RH
样品尺寸要求反射 ≥2.8cm直径,透射 ≥4.2cm直径
测头重量0.9kg
主机重量1.8kg
透射模块重量4.5kg
电源100–240V AC,50/60Hz(全球通用)

应用领域

SSR-ER Version 6 可广泛应用于以下领域:

  • 建筑节能材料检测:如屋顶涂层、Low-E玻璃、保温墙面

  • 太阳能技术:光热镜面、光伏组件涂层性能检测

  • 航空航天材料评估:如热控涂层、反射膜等

  • 新材料研究与开发:光学特性分析

  • 工业质量控制与来料检验



SSR-ER 第六代太阳光谱反射仪集高精度、多波段测量、强大的校准系统与便捷操作于一体,是现代材料光谱分析的重要工具。其模块化设计与丰富选配件,使其不仅适用于实验室,也能胜任户外便携测试。无论是科研单位、材料制造商,还是质量控制机构,SSR-ER 都是提升测量效率与精准度的不错选择。