D&S AE1/RD1 半球发射率测量仪

引言

D&S AE1/RD1 半球发射率测量仪是一款专门设计用于测量材料的半球发射率的仪器，符合 ASTM C1371 标准。该仪器由两部分组成：AE1 发射率计和 RD1 数字电压计。它为实验室提供了一个高效、精确且经济的解决方案，能够快速、准确地测量各种材料的半球发射率。

主要特点

1. 高重复性：该设备的测量重复性为 ±0.01 发射率单位，确保测试结果的高准确性和稳定性。

2. 操作简便：AE1 发射率计的探测器自带加热功能，避免了对样品进行加热的麻烦，也不需要额外的温度测量，使操作过程更为简便。

3. 快速测量：仪器在经过约 30 分钟的预热后，能够每 1.5 分钟完成一次测量，极大提高了工作效率。

4. 经济实用：与同类设备相比，D&S AE1/RD1 具有较为合理的价格，提供了更高性价比的解决方案。

5. 符合标准：该仪器符合 ASTM C1371 和 ISO 标准，能够满足高标准的测量要求。

测量原理与操作流程

AE1 发射率计利用辐射热传递原理，通过检测辐射热来测量样品的发射率。仪器的输出电压与材料的发射率之间呈线性关系，因此可以通过调整 RD1 数字电压计的增益旋钮，校准仪器并直接读取样品的发射率值。

测量步骤：

1. 校准过程：将 AE1 发射率计放置在已知高发射率标准样品上，并通过 RD1 调整输出电压，使其与标准样品的发射率值相符。

2. 发射率测量：校准完成后，将 AE1 发射率计放置在待测样品上，RD1 数字电压计将直接显示该样品的发射率值。

设备技术规格

• 输出电压：在样品发射率为 0.9、样品温度为 78°F（25°C）时，输出电压为 2.4 毫伏。

• 线性度：输出电压与发射率之间保持近乎线性，误差范围在 ±0.01 单位内。

• 时间常数：约为 10 秒钟，即达到最终值的 63% 所需的时间。

• 样品温度：样品的最大温度为 130°F，且样品与标准样品的温度需保持一致。

• 温度漂移：仪器输出会受到环境温度变化的影响，但在测试所需的短时间内，漂移对测量结果的影响可以忽略不计

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D&S AE1/RD1 半球发射率测量仪是一款高精度、操作简便且经济实用的发射率测试设备。其线性输出和高重复性，能够满足多种材料的半球发射率测量需求。无论是在实验室中进行标准测量，还是在特殊材料的定制测量中，AE1/RD1 都能提供可靠、精确的结果。通过提供多种适配器和定制选项，它也能适应不同尺寸和形态的样品，极大地扩展了其应用领域。