明策光电：十六年耕耘，讲好品牌故事

2026-06-15

上海明策光电成立十六年，始终专注进口精密测试测量仪器的代理与服务，深耕红外测温、高速影像、热成像、计量校准等多个细分领域。近百所 985/211 高校与多个省级计量院的持续选择，印证了明策"选对仪器、用好仪器"的核心价值。

IMPAC红外测温技术发展趋势与未来展望

2026-06-12

红外测温技术作为现代工业温度测量的重要手段，其应用范围还在不断扩展。从传统的钢铁、玻璃工业，到新兴的半导体、新能源领域，红外测温技术都在发挥着不可替代的作用。IMPAC作为这一领域的知名品牌，凭借其高精度、高可靠性的产品特点，在各个工业领域发挥着重要作用。本文将探讨红外测温技术的发展趋势和未来展望。

上海明策光电：进口红外测温设备的本地化技术服务实践

2026-05-20

上海明策光电技术有限公司针对进口工业红外测温设备在中国市场应用中的痛点，搭建全流程本地化技术服务体系的实践。该公司作为 IMPAC、MIKRON 等进口测温品牌的中国合作伙伴，通过缩短响应周期、降低沟通成本、控制使用成本三大核心价值，提供售前咨询、现场安装、校准检定、维修备件、用户培训等全生命周期服务。文中结合钢铁、玻璃、科研院所等典型案例，展示服务对设备稳定运行、工艺优化与项目落地的支撑作用，并明确响应时限、现场支持、校准周期等服务承诺，为进口测温设备的本土化高效运维提供可落地方案。

​Mikron M390超高温黑体炉：精准高温测量的温度基准

2025-07-28

在现代科研与高端制造中，精确的高温测量是保障质量与安全的关键环节。为满足从材料研究到航天航空等领域对超高温测量的严苛需求，Mikron公司推出了性能卓越的 M390超高温黑体炉，其测温范围涵盖 300°C至3000°C，被誉为超高温黑体辐射源的行业标杆。

D&S AE1/RD1发射率测量仪：符合ASTM C1371、JG/T 235-2014

2025-04-16

D&S AE1/RD1 半球发射率测量仪是一款专门设计用于测量材料的半球发射率的仪器，符合 ASTM C1371 标准。该仪器由两部分组成：AE1 发射率计和 RD1 数字电压计。它为实验室提供了一个高效、精确且经济的解决方案，能够快速、准确地测量各种材料的半球发射率。

高温动态加热材料辐射率测量：傅里叶红外FTIR光谱仪、黑体炉

2025-03-26

辐射率是衡量材料热辐射能力的重要参数，是材料发射的辐射能量与理想黑体在相同温度下发射的辐射能量之比。传统的辐射率测量方法大多应用于静态加热条件下，但在飞行器的动态热负荷条件下，这种方法往往无法满足高精度测量的要求。因此，本文提出了一种基于

​Mikron M330 进口黑体炉——高温黑体辐射源，300°C至1700°C

2025-03-21

Mikron M330-US / M330-EU 是一款先进的高温黑体辐射源，广泛应用于红外温度传感器、红外热像仪、光谱仪、高能光子发生器、太阳辐射模拟及光学高温计等领域。它具有广泛的温度范围（300°C至1700°C，572°F至3092°F），并提供精确的温控系统，满足高标准的质量控制要求。

外场红外靶标测试系统：最小可分辨温差（MRTD）测试

2025-03-19

DT系统采用高度模块化设计，能够在实验室及外场环境下对几乎所有类型的热成像设备进行广泛测试，涵盖最小可分辨温差（MRTD）、噪声等效温差（NETD）、调制传递函数（MTF）等多达二十余种核心性能参数。

INFRAMET VSB真空面源黑体，模拟太空环境条件下的红外测试系统

2024-12-23

在将红外系统送入太空之前，通常需要在冷却真空舱中使用黑体进行测试，以模拟太空环境。VSB黑体是一种新型黑体，由Inframet推出，专为空间实验室需求设计，能够在太空环境条件下工作，并通过舱外PC进行远程控制。其发射器尺寸范围为50x50mm到150x150mm，温度通过加热元件调节，稳定性由超精密算法实现。VSB黑体还与MRW-8旋转轮协同工作，适用于模拟低至中等温度目标。真空黑体源通过将黑体置于真空腔室中，减少空气对流和热传导的影响，提供更纯净的热辐射信号，广泛用于红外探测设备的校准、航天设备的标定、热成像系统性能测试及材料热辐射特性研究。

硅片专用测温仪-Impac IS 50-Si-LO plus

2024-11-15

碳化硅（SiC）因其优异的高温和低温工作性能在半导体领域备受关注。作为一种宽禁带半导体，碳化硅在极端温度下仍能保持良好的电气性能，具有广泛的应用前景。温度变化会影响碳化硅片的物理、化学和电学性能，高温下其热膨胀、硬度及机械性能改变，低温时则收缩、变脆。Impac IS 50-Si-LO plus测温仪适用于硅片测量，测温范围为400-1600°C，配备光纤及可更换测头，不受电磁干扰，耐温高达250°C，并可根据测量距离选择不同测头，实现小光斑尺寸测量。