差分黑体温差对MRTD的影响

在MRTD测试过程中，红外热像仪评估系统通过差分黑体产生温差（其中白杆为正，黑杆为负）。这些温差经过光学系统后被热像仪接收，实际测量的是目标和背景的辐射温差。由于热像仪接收到的信号是辐射温差，因此它直接影响到MRTD的测试结果。

由于差分黑体的温度传感器存在测量误差（如传感器位置与辐射面之间的距离、测量准确性等），因此差分黑体的实际温度与控制器设定的温度之间可能存在差异，导致温差的测量不准确，从而影响MRTD的计算结果。

 差分黑体发射率对MRTD的影响

普朗克黑体辐射理论表明，黑体的辐射主要由温度和发射率决定。在MRTD测试中，差分黑体的温度和发射率共同影响热像仪接收到的辐射。然而，差分黑体的实际发射率一般低于理想的黑体发射率（通常在0.92至0.98之间）。这意味着，虽然理论上假设目标和背景黑体的发射率为1（理想黑体发射率），但实际发射率的偏差会对辐射强度产生显著影响，从而影响MRTD测量的准确性。

总结

• 差分黑体温差的不准确性是MRTD测试中的一个主要误差源，因为它直接影响到温差的测量和MRTD的计算结果。

• 发射率的影响同样显著，差分黑体的实际发射率通常低于理想值，并且随着波长的变化，发射率对辐射的影响会更大，这也会对MRTD测试结果产生较大的误差。

推荐型号：INFRAMET TCB差分面源黑体

TCB系列黑体是差分面源黑体，旨在模拟低温和适宜的常温目标。使用热电元件控制散热器温度。黑体散热器的绝对温度通常从0℃至100℃可调节，但范围可扩展到-40℃至180℃。黑体发射面（从50x50mm到500x500mm），也可以拓展到更大的发射器，高达1000x1000mm的尺寸。

用于典型温度范围为0℃至100℃的小型50x50mm发射面的TCB-2D黑体被用作测试热像仪的DT/MS光电测试系统的模块。具有更大发射面和其他温度范围的黑体都可以作为其他各种应用的独立模块提供。