红外热像仪 MRTD 测试采用红外热像仪评估 系统进行，评估系统根据光学原理分为两类：透射 式和反射式。透射式体积小、易携带，但受红外材料限制，光谱范围比较窄，测试孔径小，无法满足 高空间频率热像仪测试的需求，因而透射式评估 系 统 一 般 用 于 中 波 3  μm～ 5  μm 或 长 波 8  μm～ 14 μm 红外热像仪现场测试。

 反射式评估系统主镜采用抛物面反射镜，表面 镀高反射膜层，可覆盖 2 μm～15 μm 红外波段，光 学材料采用普通光学玻璃，测试孔径、光谱范围不 受材料限制，可制作成大口径、长焦距、宽光谱的 评估系统，满足高精度红外热像仪高空间频率测 试的需求，但由于其体积大、质量重，一般用于实 验室测试。

反射式红外热像仪评估系统测试原理如图 1 所示[5-6] ，主要由面源黑体І、靶轮、面源黑体 、四杆靶、次反射镜、离轴抛物面反射镜、差分温度控 制系统组成。目标黑体（面源黑体І）和背景黑体 （面源黑体 Π）形成差分黑体，用来模拟目标和环境 背景辐射，可根据热像仪使用环境设置背景温度； 四杆靶高宽比为 7：1，安装在靶轮上，通过靶轮转 动可选择不同空间频率的四杆靶。目标和背景黑 体发出的辐射，通过次反射镜、离轴抛物面反射镜 反  射形成无穷远目标，供红外热像仪测试。

MRTD 测试时，首先采用较低空间频率的四杆 靶标，并把温差调到高于规定值进行观察；调节热 像仪，使靶标清晰成像，观察者把各个测试状态及 观察距离调到最佳；降低温差，继续观察，直至目 ∆T1 ∆T2 标黑体温度从背景温度以下调到背景温度以上， 分辨黑白图样，记录观察到的温差，称之为白杆温 差；继续降低温差，直到黑杆出现，记录并判读黑 杆温差。判读时以观察人员能分清图像为准；对 其他规定空间频率靶标重复上述过程；分别记录 每个空间频率四杆靶标图案的最大温差值，即为 热像仪不同频率下的 MRTD 值。目标温度高于背 景温度时白杆称为正温差 ，目标温度低于背景 温度时黑杆称为负温差 ，取其绝对值的平均 值，即被测热像仪的 MRTD（f）为

MRTD(f) = |∆T1|+|∆T2| 2

（1）     ∆T1 = T1 −T0 ∆T2 = T0 T2 T0 T1 T2 式中： ， － ； 为背景黑体温 度； 为人眼能分辨出白杆时目标黑体温度； 为 人眼能分辨出黑杆时目标黑体温度。

推荐型号：inframet TCB差分面源黑体

  精密差分温度控制

• 通过热电制冷/加热元件控温，辐射温度可在      0℃ 至 +100℃ 范围内精准调节（可选扩展至 -40℃ 至 +180℃）。

• 可实现 -20℃ 至 +80℃ 范围内的差分温度，模拟冷目标与中等温度目标等多种测量环境。

  多规格发射面可选

• 最小发射面：50×50 mm（如 TCB-2D 型号）。

• 可扩展至 500×500 mm（如 TCB-20D 型号），为更高需求的系统应用提供支持。

• 根据实际测试需求，选择合适的尺寸与温度范围，避免不必要的资源浪费及成本增加。

  优异的温度均匀性与稳定性

• 对比传统黑体，TCB 系列拥有更佳的温场均匀性，为您的红外检测或热像仪评估提供更精确的数据参考。

• 温度分辨率可达 1 mK，调控稳定性高达 ±2 mK，整体不确定度仅约 0.03℃，让您安心应对严苛的测试标准。

  智能化、一体式设计

• 控制电子学与黑体主体集成为单一模块，您只需连接电源线和 RS232/USB，即可通过电脑软件进行全程控制。

• 一体式方案极大提升了设备的可靠性与抗电磁干扰能力，也简化了操作和维护流程。

  广泛应用场景

• 科研与计量实验室：作为国家标准或行业标准实验室的理想温度基准。

• 红外热像仪评估与校准：适用于 MRTD      测试（最小可分辨温差）、NETD 测试（噪声等效温差）等关键指标评估。

• 军工航天、电子制造、能源化工：在需要高精度黑体辐射源的环境中提供稳定的温度参考。