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AE1/RD1发射率测量仪测量发射率值的稳定问题
来源:明策科技 | 作者:上海明策 | 发布时间: 2022-02-28 | 522 次浏览 | 分享到:

如图片所看到的的,测量陶瓷加釉后的发射率值,上图各种颜色不同的陶瓷表面在测量时发现需要超过五分钟测量才能完成,期间读数会从0.89逐渐降低到0.79才稳定。稳定时间过长、跨度太大读数如何保证准确?

我们是在如下环境中测量的

1.仪器是在预热标定操作完成后开始测量

2.样品的温度约15度,四种不同颜色的样品测量时均为同样表现,测量过过程中测量发射率标准板读数稳定且准确。

3.样品理论导热系数 10w/m.k

技术工程师A:试样的导热性能 怎么样?

技术工程师B:瓷砖比较厚,表面涂层薄,比较光滑,导热一般。

从红外能量辐射的角度,能量与颜色无关。可能材料结构有微变化,从而物理特性发生变化。

如果需要对原位材料、无法放置在散热器上的大样品或导热系数低的材料进行发射测量,如果表面温度与校准标准温度不同,则可能会出现误差。有必要确保表面温度与校准标准相同,或计算校正后的读数。

以上这些都是技术工程师经过探讨得出来的一些结论,更多关于发射率测量仪的稳定问题请大家继续关注上海明策吧!