IMPAC ISR 12-LO红外测温仪在超高温陶瓷力学测试中的应用

2025-05-12

在这些实验中，温度的精确控制和监测对测试结果至关重要。ISR 12-LO的高温测量范围（1000°C至3300°C）完美契合了这些实验需求，确保了在1200°C至2000°C的测试范围内，材料的温度可以被精确测量，并提供稳定、可靠的实验数据。

Mikron M330中温黑体炉，300-1700℃稳定度达到±0.5°C

2025-05-12

Mikron M330-US / M330-EU黑体炉是一款高精度、高稳定性的黑体校准源，专为高温测量和校准应用设计。其温度范围为300°C至1700°C（572°F至3092°F），并具有出色的辐射效率和可重复性，适用于红外温度传感器、红外热像仪、光谱仪等设备的校准。以下是该产品的主要特性和技术参数：

热像仪NETD值越小，温度分辨率能力更强？

2025-05-12

NETD（噪声等效温差）是评估红外成像系统性能的关键参数。它反映了系统对低频场景（均匀大型物体）的温度分辨率，但不表示系统对具有较高空间频率的场景的温度分辨率能力。因此，仅根据 NETD 的值来判断两个红外成像系统的温度分辨率能力是不完整的。即使红外成像系统 A 的 NETD 小于系统 B，也只能表明系统 A 在低频场景中表现更好，而不是系统 A 与系统 B 相比，在所有类型的场景中都具有卓越的温度分辨率能力。

高温材料光谱发射率测量：傅里叶光谱仪FTIR+超高温黑体炉装置

2025-05-12

光谱发射率指的是材料在特定波长范围内的辐射亮度与黑体辐射亮度的比值。根据普朗克定律，任何温度高于绝对零度的物体都会辐射热能，其辐射强度与温度成正比。光谱发射率不仅与物体的温度相关，还受到材料表面状态、波长和观察角度等因素的影响。高温环境下，材料的光谱发射率对其热辐射能力、热管理设计以及辐射测温系统的精度有着重要影响。

因此，准确测量高温材料的光谱发射率在多个高科技领域中至关重要，特别是在高温热防护、航空航天材料开发、能源利用与节能技术、红外测温等方面具有广泛的应用。

Impac IN 140/5-L光学高温计：激光增材石英玻璃熔池温度测量与控制

2025-05-09

在激光增材制造过程中，熔池温度的精准控制对石英玻璃的质量至关重要。通过研究激光功率与熔池温度之间的关系，采用光学高温计进行实时监测，并结合PID控制算法实现了闭环温度控制。实验表明，该控制系统能够有效维持熔池温度的稳定，从而提高了石英玻璃的增材质量。

EXIR系列热像仪MRTD、NETD测试系统：模拟真实野外场景

2025-05-08

在军事侦察、安防监控、工业检测等领域，热像仪的性能直接影响着设备在复杂环境中的可靠性。然而，传统实验室测试系统仅能在恒温条件下评估热像仪参数（如MRTD、MTD、NETD），而实际应用中，热像仪常面临-40°C至+60°C的环境温度波动与背景温度差异。这种“实验室完美，实战失效”的痛点，正是Inframet推出的EXIR系列极端条件测试系统所要解决的核心问题。

IMPAC IS 140/IGA 140高温红外测温仪：量程220°C 至 3500°C

2025-05-06

IMPAC IS 140 / IGA 140 系列红外测温仪是由上海明策电子高精度数字式非接触温度测量设备，专为金属、陶瓷、石墨等高温材料的工业加工过程设计。该系列测温仪采用先进的可变焦光学系统，具备快速响应能力和多种瞄准方式，适用于220°C至3500°C的温度测量范围。其模块化设计和多种通信接口选项，使其易于集成至各种自动化控制系统中，满足严苛工业环境下的测温需求。

激光金属沉积（LMD）裂纹检测：实时温度曲线准确识别裂纹位置

2025-05-06

研究发现，通过IGA320/23-LO红外单色高温计记录的温度变化曲线能够准确识别裂纹位置，并且裂纹深度越大，记录的温度峰值也越高。因此，论文提出的方法能够实时监控LMD过程中的裂纹生成、大小和位置，从而及时发现并消除缺陷。

热像仪MRTD（最小可分辨温差）实际能力测试与评估

2025-05-06

Inframet DT-150是一款专门用于热像仪性能评估的测试平台，广泛应用于热成像系统的实验室测量。该系统由多个核心组件组成，包括面源黑体、旋转靶盘、IR准直器及用于控制黑体和热图像分析的软件。这些组件的结合，使得DT-150能够精准测量热成像仪的最小可分辨温差（MRTD）及其分辨率等关键参数。

高温法向光谱发射率测量装置：超高温黑体+傅里叶光谱仪(FTIR)

2025-04-30

法向光谱发射率作为材料热辐射特性的重要参数，在优化高温材料的热处理工艺和提高能量利用效率方面发挥着重要作用。然而，目前大多数研究中测量温度相对较低或范围较窄，且主要集中于稳态温度测量，使得航空和工业领域对宽温度范围内光谱发射率研究的需求难以满足。