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【发射率测量仪】辐射率反射率测量系统
来源:明策科技 | 作者:上海明策 | 发布时间: 2021-09-03 | 77 次浏览 | 分享到:

本系统由美国Devices & Services 提供设备,由上海明策电子科技有限公司提供售前售后专业技术服务。Devices & Services公司位于德克萨斯州达拉斯市,自1977年以来一直为材料、太阳能和航空航天工业制造提供先进的热学和光学仪器。

本系统由AE1/RD1辐射率测量仪与SSR-ER太阳光谱反射率测量仪组成。

发射率测量仪内部核心是一个发热的黑体,内部的热电堆传感器将反射的热辐射的数据转换为电压信号,并按照特定温度下的普朗克黑体定律给的热辐射光谱数据进行内部分析处理,从而得出数据反馈给仪器数显信号进行数据的输出。

反射率测量仪则拥有六个经过高精度标定的探测器来对应不同的光谱范围,通过创建一个自定义加权法来配置每个仪器,从而尽量减少不同仪器的变化影响结果,内部卤钨灯对样品孔处的样品提供漫照射,反射光能在与正常情况下成20°角被检测器接收。通过相互作用,这个检测结果等同于在同样检测条件下检测得到的直射光能。

SSR-ER反射率测量仪能够准确测量漫反射和镜面反射材料的太阳能吸收率和反射率,甚至还可测透明材料透射率(厚度可测 6.4mm)。太阳能反射率或吸收率的绝对精度为0.001级别,重复精度在0.003 

AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率,测量仪仅对辐射热传输响应,并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器,RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致,当AE1测量待测样品上时,RD1就能直接读出发射率。