[行业新闻] MIKRON M390超高温黑体炉在高温材料辐射建模中的关键作用

2025-06-11

MIKRON M390黑体炉作为已知温度辐射特性基准助力建模钨、石墨、C-C复合材料在不同温度点的辐射特性



在实际研究中，MIKRON M390、MIKRON M305、MIKRON M310黑体炉作为高温辐射源，主要用于支持钨、石墨以及碳-碳（C-C）复合材料在不同温度点下的辐射建模与温度反演验证。该黑体炉具备稳定的高温输出能力（覆盖600°C 至 3000°C），其高发射率（ε ≈ 0.995）和辐射行为高度可预测性，使其成为开展高温红外热辐射测量实验的理想参考标准。

[行业新闻] 基于KLEIBER红外测温仪的金属3D打印熔池温度实时监测

2025-06-10

金属3D打印，尤其是基于选择性激光熔化（SLM）的粉末床熔融技术（PBF），在航空、医疗、模具等领域具有广阔应用前景。然而，其质量稳定性受制于熔池的瞬时温度变化，传统手段难以实现对微尺度、高速熔池状态的准确捕捉。因此，高频温度监测技术成为增材制造智能化的关键突破口。

[行业新闻] 如何为红外测温仪找到合适的发射率设置？

2025-06-06

什么是发射率？

发射率是衡量表面发出红外能量效率的指标。对于大多数材料来说，发射率与反射率相反。高发射率的表面更容易被红外测温仪测量；而低发射率则会增加测量难度。

大多数非金属、非反光材料的发射率通常约为0.95。这也是IMPAC传感器的默认设置。
上海明策的IMPAC红外测温传感器配有可调节发射率设置，以适应更广泛的目标材料。调节方式因型号而异，可能采用旋转开关、按钮、触控屏，或通过USB/RS485接口访问传感器内部存储的参数进行设置。

[行业新闻] 2000℃高温材料光谱发射率测量：​超高温黑体+FTIR光谱仪

2025-06-05

能量对比法是一种基于发射率定义的直接测量方法。具体而言，在相同的温度、波长和视角条件下，测量待测材料与理想黑体的辐射能量，二者之比即为材料在该条件下的光谱发射率。

[行业新闻] INFRAMET面源黑体：mk级温度稳定性，面源可定制至500mm

2025-06-03

TCB 系列：热电控低温黑体，适用于0°C至+100°C范围（可扩展至-40°C~+150°C），温度分辨率和稳定性均达到1 mK，发射率高达0.98（可选0.99）。应用于冷却型热像仪测试、标准计量及科研等高要求领域。

[行业新闻] 热像仪NETD、MRTD检测与评价系统应用方案—辽宁电科院

2025-06-03

NETD测试方法：
系统通过对高均匀度黑体目标进行图像采集，计算热像仪信号峰值与系统噪声的信噪比，当SNR=1时的温差即为NETD。实验结果显示，在不同环境温度（12℃、22℃、34℃）下，多次测量值之间偏差均小于5%，验证了系统的稳定性与测试精度。

[行业新闻] 红外热像技术在激光金属沉积（LMD）过程中的监测与缺陷控制

2025-05-30

红外热成像技术，特别是短波红外相机结合激光滤波器的应用，能够在LMD过程中实现实时、非接触式的温度监测。相比传统的单点测温（如双波长高精度红外计），热成像相机可提供面状温度分布信息，极大提升了缺陷检测的空间分辨率与灵敏度。例如，使用的IMPAC IGA 320/23-LO单色高温计/IMPAC IGAR 12-LO two-color pyrometer（IMP）能在150–1200 °C范围内准确探测热变化，定位并跟踪微裂纹。

[行业新闻] LumaSense M330黑体炉应用于高温辐射测温校准实验

2025-05-29

实验采用恒温炉构建背景温度为1023 K的高温环境，使用Inconel 718样品作为测温对象，设置K型热电偶测量真实温度，采用三类辐射测温方法（单色、双色、多波段）进行测量，并引入LumaSense M330作为标准黑体源进行系统误差分析和校准。

[行业新闻] ​基于X点发射率原理的2273K高温金属发射率测量系统

2025-05-28

在实际测温过程中，金属材料表面的发射率常随温度、氧化状态及表面粗糙度发生变化，成为辐射温度误差的主要来源。X点发射率（X-point emissivity）指在特定波长处，金属材料不同温度下的发射率曲线交汇于一点，其发射率对温度变化不敏感，天然具备温度独立性，是解决非接触测温中“发射率不确定性”的理想突破口。

然而，以往该原理仅停留在理论或实验室初级验证阶段，缺乏完整的实验平台与测量流程。我们首次实现了理论建模—数值仿真—实验测量—温度反演的一体化系统，真正让X点测温成为工程现实。

[行业新闻] 红外成像仪MRTD测试的影响因素分析与系统应用

2025-05-27

红外成像系统在军事侦察、工业检测及安防等领域已形成广泛应用，其成像性能的定量评估成为系统研制与验收中的关键环节。其中，最小可分辨温差（MRTD）是衡量热像仪空间分辨与热灵敏度综合能力的重要指标。然而，MRTD测试不仅受系统噪声、调制传递函数（MTF）及显示终端性能等因素影响，更受到采样相位变化的显著干扰，导致实验数据偏离理论值。

为提升测试精度与结果一致性，本文在已有理论研究的基础上，结合Inframet公司DT系列红外测试系统的应用案例，探讨通过先进设备和参数调控手段，提升MRTD测试准确性与实用性的方法路径。